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日置LCR測試儀

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元器件測量

LCR測試儀IM3536

DC,4Hz~8MHz測量頻率,今后的*產品

 

  • 測量頻率DC,4Hz~8MHz
  • 測量時間:zui快1ms
  • 基本精度:±0.05% rdg
  • 1mΩ以上的精度保證范圍,也可安心進行低阻測量
  • 可內部發生DC偏壓測量
  • 從研發到生產線活躍在各種領域中

 

主機不標配測試治具。請在選件中選擇測試治具和探頭。

 

基本參數

 

測量模式

LCR(單一條件下測量),連續測量(保存條件下連續測量)

測量參數

Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc(直流電阻),Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε

測量量程

100 mΩ~100 MΩ, 10檔量程(所有參數由Z規定)

顯示范圍

Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等

基本精度

Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°(代表值,精度保證范圍:1mΩ~200MΩ)

測量頻率

4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步進)

測量信號電平

[V模式, CV模式]的[通常模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (zui大50 mA)
1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (zui大10 mA)
[V模式, CV模式]的[低Z高精度模式] 
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (zui大100 mA) 
[CC模式]的[通常模式] 
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (zui大5 V) 
1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (zui大1 V)
[CC模式]的[低Z高精度模式] 
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (zui大1 V)
[直流電阻測量]: 1 V固定

DC偏壓

發生范圍:DC電壓0~2.50 V (低Z高精度模式時0 ~1 V)

輸出阻抗

通常模式:100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω

顯示

彩色TFT5.7英寸,觸摸屏

功能

比較器、BIN測量(2個項目10種分類),觸發功能、開路·短路補償、接觸檢查、面板保存·讀取功能、存儲功能

接口

EXT I/O (處理器), /USB/U盤/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD輸出

電源

AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max

體積及重量

330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg

附件

電源線×1,使用說明書×1,CD-R(通訊說明書,LCR應用光盤)×1

 

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